بازرسي با ذرات مغناطيسي (MT)

 از روش بازرسي با ذرات مغناطيسي براي بررسي نقصهاي سطحي و برخي نقصهاي زير سطحي در مواد فرومغناطيس استفاده مي‎شود. عيوب و نقصهايي نظير ترک‎ها، ذرات سرباره محبوس شده و يا خلل و فرجهاي موجود در قطعه باعث ايجاد ناپيوستگي مغناطيسي شده و در صورت القاي يک ميدان مغناطيسي به قطعه، اين ناپيوستگيها موجب تشکيل قطبهاي مغناطيسي يا اعوجاج ميدان در آن ناحيه شده و اصطلاحاً يک ميدان نشتي در بالاي سطح قطعه تشکيل مي شود .

اين وضعيت مي‎تواند توسط ذرات مغناطيسي ديد پذير شود، به طوري که ذرات مغناطيسي در اطراف عيب تجمع کرده و به اين ترتيب شکل، موقيعت و اندازه عيب مشخص مي‎گردد. فرآيند فوق به صورت شماتيک  در شکل (4-1) مشاهده مي‎شود . 

شکل (4-1) نحوه جذب شدن ذرات مغناطيسي بر روي عيوب [4]

ذرات مغناطيسي را مي‎توان به صورت خشک و يا ذرات تر معلق در مايع بر روي سطح قطعه اعمال نمود